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电线电缆半导电橡塑电阻测试仪工厂宜州

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电线电缆半导电橡塑电阻测试仪工厂宜州

发布用户:Bgjy 时间:2021-10-16 13:26

电线电缆半导电橡塑电阻测试仪工厂宜州

电线电缆半导电橡塑电阻测试仪工厂宜州


四端测试法是目前较先进之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求

便于查看的显示/直观的操作性:高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD显示;操作易学,直观使用;

基本设置操作简单,方阻、电阻、电阻率、电导率和分选结果;多种参数同时显示。

精度高:电阻基本准确度: 0.05%;方阻基本准确度:3%;电阻率基本准确度:3%

整机测量大相对误差:≤±3%;整机测量标准不确定度:≤±3%

四位半显示读数;八量程自动或手动测试;

测量范围宽: 电阻:10-4Ω-10-5Ω ;方阻:10-4Ω/□-105Ω/□;

正反向电流源修正测量电阻误差

恒流源:电流量程分为: 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六档;仪器配有恒流源开关可有效保护被测件,即先让探针头压触在被测材料上,后开恒流源开关,避免接触瞬间打火。为了提高工作效率,如探针带电压触单晶对材料及测量并无影响时,恒流源开关可一直处于开的状态。

可配合多种探头进行测试;也可配合多种测试台进行测试。

校正功能:可手动或自动选择测试量程 全量程自动清零。

厚度可预设,自动修正样品的电阻率,无需查表即可计算出电阻率。

自动进行电流换向,并进行正反向电流下的电阻率(或方块电阻)测量,显示平均值.测薄片时,可自动进行厚度修正。

双电测测试模式,测量精度高、稳定性好.

具备温度补偿功能,修正被测材料温漂带来的测试结果偏差。

比较器判断灯直接显示,勿需查看屏幕,作业效率得以提高。

3档分选功能:超上限,合格,超下限,可对被测件进行HI/LOW判断,可直接在LCD使用标志显示;也可通过USB接口、RS232接口输出更为详细的分选结果。

测试模式:可连接电脑测试、也可不连接电脑单机测试。

丰富的接口,Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。实现远程控制。U盘可记录测试数据

软件功能(选配):软件可记录、保存、各点的测试数据;可供用户对数据进行各种数据分

析。

标配:测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。

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检查电源线是否接触良好;检查后面板上的电源开关是否已经打开

电流测量:本仪器采用先进芯片技术,可通过调节硅材料厚度,仪器可直接锁定电流,使测量使用更加简便准确,本仪器可根据需要配备测试平台, 利用测试平台可以测试薄片电阻率

测量精度±(0.1%读数)

以下分别讲解方阻和材料测试的设置四探针方阻测试步骤上述步骤中1项,使用前期准备

仪器不使用时请切断电源,连接线无需经常拔下,避免灰尘进入航空插引起短接等现象

接口:可选择“USB"和“232"两种模式。根据用户使用的接口类型进行选择。

使用者的修改使用者不得自行更改机器的线路或零件,如被更改机器后保修则自动失效并且本公司不负任何事故责任。在保修内使用未经我公司认可的零件或附件造成故障也不予保证。如发现送回检修的机器被更改,将机器的电路和零件修复回原来设计的状态,并收取修护费用。

取试样,试样试验前的处理依据标准进行,

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测试安全程序规定一定要按照规定程序操作。操作人员确定能够完全自主掌控各部位的控制开关和功能。

材料电阻测试步骤:操作步骤及流程

仪器不使用时请切断电源,连接线无需经常拔下,避免灰尘进入航空插引起短接等现象

探针间距数据的输入,探针间距出厂时已经标定,无需再次测量,探针头上有详细的探针数据资料,探针间距的设置:将光标移动至“探针间距"按“设置"键进入,通过面板上面的“数字"按键输入数据按“确定"键进行确认;按照以上方法和步骤设定"厚度“,注意厚度和探针间距修正系数表已经设置在仪器程序中,自动修正,无需再次输入和查询表格。

主机外形尺寸:330mm*350mm*110mm

探针间距数据的输入,探针间距出厂时已经标定,无需再次测量,探针头上有详细的探针数据资料,探针间距的设置:将光标移动至“探针间距"按“设置"键进入,通过面板上面的“数字"按键输入数据按“确定"键进行确认;按照以上方法和步骤设定"厚度“,注意厚度和探针间距修正系数表已经设置在仪器程序中,自动修正,无需再次输入和查询表格。

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医学规定不能让有心脏病或配戴心律调整器的人员操作。

把被测物测试所需要之参数数据设定:

误差:±0.2%读数±2字

待参数设置完毕,开始测量,把测试获得的数据写入试验报告中

BEST-300C导电材料电阻率测定仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.

仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;自动转换量程;测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成,故定位准确、游移率小、寿命长;测试结果由数字表头直接显示。在计算机控制下进行两次电测量,能自动样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都是对几何因素的影响进行动态的自动修正,测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据,把采集到的数据在计算机中加以分析,然后把测试数据以表格,图形直观地记录、显示出来。

安全守则操作人员随时给予教育和训练,使其了解各种操作规则的重要性,并依安全规则操作。

把被测物测试所需要之参数数据设定:

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提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求

轻拿轻放,避免仪器震动,水平放置,垂直测量依据不同之测试样品,选择被测试电流,电流设置:按方向键移动光标至“电流"功能,按“设置"键进入;再按“左右"方向键选择电流数据,选择完毕后按“确定"键进行确认。按照以上步骤和方法选择电压、长度单位、探针形状设定、温度.

分辨率: 小1μΩ

如图3接线方式,把主机与夹具连接线,连接好并固定住,

电流输出:直流电流 0~1000mA 连续可调,由交流电源供电。

GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.

本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电导率单位自动选择,BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成图表和报表。

本机可以依据不同测试产品选择配置不同的测试治具,以下举例操作说明准备好被测物,链接好测试探头,把测试探头接口与主机接口相连接,并锁定,防止松动或接触不良而对测试结果造成影响.

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本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

在该界面下通过按下按键板上的上下左右键,可以移动蓝色光标选择相应的参数。如图2,将移动到某一参数的位置,按下“设置"键,光标将变为深蓝色。此时通过上下左右键和数字键可以对相应的参数进行设置,设置完毕后按“确定"键返回。

提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求

仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;自动转换量程;测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成,故定位准确、游移率小、寿命长;测试结果由数字表头直接显示。在计算机控制下进行两次电测量,能自动样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都是对几何因素的影响进行动态的自动修正,测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据,把采集到的数据在计算机中加以分析,然后把测试数据以表格,图形直观地记录、显示出来。

轻拿轻放,避免仪器震动,水平放置,垂直测量

硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,

导电电阻率测试仪满足:YST 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法 第6部分 粉末电阻率的测定

抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等

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如经上述检查无误后,测试仪仍未正常启动,请联系本公司进行解决。

试样固定住后,加压探头探针至被测样品表面,带数据稳定后读数.

电阻测量范围: 电阻率: 1×10-6~2×106Ω.cm、

参照标准:硅片电阻率测量的标准(ASTM F84).

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